Влияние токов утечки на Резистивное пеРеключение и пРоцедуРу фоРмовки мемРистивных OxRAM-устРойств
АндРеева Н.В., Рындин Е.А., Мазинг Д.С., Усикова А.А., Романов А.А., Айвазян В.М., ПетРов М.О.

Поступила в редакцию: 7 Июня 2025